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無損檢測技術(shù)的發(fā)展歷程

更新時間:2016-08-19      點擊次數(shù):5889
 無損檢測技術(shù)發(fā)展過程經(jīng)歷了三個階段:無損探傷階段、無損檢測階段和無損評價階段。*階段是無損探傷,主要是探測和發(fā)現(xiàn)缺陷,第二階段是無損檢測,不僅僅是探測缺陷,還包括探測試件的一些其他信息,例如結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)等,并試圖通過測試,掌握更多的信息,無損評價則是第三階段,它不僅要求發(fā)現(xiàn)缺陷,探測試件的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài),還要求獲取更全面,更準確的綜合的信息,例如缺陷的形狀、尺寸、位置、取向、內(nèi)含物、缺陷部位的組織、殘余應(yīng)力等,結(jié)合成像技術(shù)、自動化技術(shù)、計算機數(shù)據(jù)分析和處理等技術(shù),材料力學、斷裂力學等知識綜合應(yīng)用,對試件或產(chǎn)品的質(zhì)量和性能給出全面、準確的評價。 

 

  常用的無損檢測方法有:射線檢測,超聲波檢測,磁粉檢測,滲透檢測、渦流檢測、聲發(fā)射檢測。為滿足生產(chǎn)的需求,并伴隨著現(xiàn)代科學技術(shù)的進展,無損檢測的方法和種類日益繁多,除了上面提到的幾種方法外,激光、紅外、微波、液晶等技術(shù)都被應(yīng)用于無損檢測。無損檢測技術(shù)的產(chǎn)生有現(xiàn)代科學技術(shù)發(fā)展的基礎(chǔ)。例如,用于探測工業(yè)產(chǎn)品缺陷的x射線照相法是在德國物理學家倫琴發(fā)現(xiàn)X射線后才產(chǎn)生的,超聲波檢測是在兩次大戰(zhàn)中迅速發(fā)展的聲納技術(shù)和雷達技術(shù)的基礎(chǔ)上開發(fā)出來的,磁粉檢測建立在電磁學理論的基礎(chǔ)上,而滲透檢測得益于物理化學的進展等。 

 

  隨著現(xiàn)代工業(yè)的發(fā)展,對產(chǎn)品質(zhì)量和結(jié)構(gòu)安全性,使用可靠性提出了越來越高的要求,由于無損檢測技術(shù)具有不破壞試件,檢測靈敏度高等優(yōu)點,所以其應(yīng)用日益廣泛。目前,無損檢測技術(shù)在國內(nèi)許多行業(yè)和部門,例如機械、冶金、石油天然氣、石化、化工、航空航天、船舶、鐵道、電力、核工業(yè)、兵器、煤炭、有色金屬、建筑等,都得到廣泛應(yīng)用。 

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